Format:
XVII, 356 S. :
,
Ill.
ISBN:
0-12-014573-1
Series Statement:
Advances in electronics and electron physics : Supplement 13,A
Keywords:
Optik
;
Teilchenoptik
;
Numerisches Verfahren
;
Elektrostatisches Feld
;
Magnetfeld
;
Computerunterstütztes Verfahren
;
Sekundärionen-Massenspektrometrie
;
Mikroskop